Szenzorikai vékonyréteg nanoszerkezetek optikai minősítése

Nyomtatóbarát változatNyomtatóbarát változat
PhD típus: 
Fizikai Tudományok Doktori Iskola
Év: 
2017/2018
Témavezető: 
Név: 
Petrik Péter
Email cím: 
petrik.peter@energia.mta.hu
Intézet: 
MTA Energiatudományi Kutatóközpont, MFA
Beosztás: 
tudományos tanácsadó
Tudományos fokozat: 
PhD
Konzulens: 
Név: 
Beleznai Szabolcs
Email cím: 
beleznai@eik.bme.hu
Intézet: 
BME Fizika Intézet
Beosztás: 
egyetemi adjunktus
Tudományos fokozat: 
PhD
Leírás: 

A bio és nano tudományok rohamos fejlődése megköveteli a mérési módszerek fejlesztését, érzékenységének, megbízhatóságának javítását, információtartalmának növelését. A szenzorikától az elektronikus eszközök technológiájáig kulcsfontosságú a határfelületek, és az ezeken létrehozott vékonyrétegek szerkezetének megértése és nagy pontosságú mérése. A munka célja optikai mérési eljárások fejlesztése vékonyréteg nanoszerkezetek vizsgálatára, elsősorban bioszenzorok fejlesztéséhez. A jelölt feladata bekapcsolódni a hardveres és kiértékelési munkákba. Az MFA Fotonika Laboratóriuma nem csak folyadékcellák és szenzorikai hardverek fejlesztésével, hanem szenzorfelületek és nanoszerkezetek tervezésével és készítésével, valamint az ezek méréséhez szükséges, főként polarizációs optikai technikák és kiértékelési eljárások fejlesztésével is foglalkozik. A mérési eljárások tökéletesítése önmagában is fontos cél, de ennek lényeges szerepe és hozadéka kell legyen, hogy az egyre érzékenyebb mérési módszerekkel megértsük a rétegek szerkezetét, azok kialakulásának mechanizmusát, és ezáltal jobb szenzorikai rétegeket tudjunk előállítani. A laborról és az aktuális témákról további részletek találhatók a http://www.ellipsometry.hu honlapon.

 

Elvárások: 

Analitikus gondolkodásra és önálló problémamegoldásra való készség. Programnyelvek ismerete előny (MATLAB, C, Pascal).

Munkahely neve: 
Energiatudományi Kutatóközpont, Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet
Munkahely címe: 
1121 Budapest Konkoly Thege M. út 29-33.