Fluoreszcens festékek felületanalitikai minősítése

Nyomtatóbarát változatNyomtatóbarát változat
Típus: 
BSc szakdolgozat téma - alkalmazott fizika
Félév: 
2017/18/2.
Témavezető: 
Név: 
Homokiné dr. Krafcsik Olga
Email cím: 
krafcsik@eik.bme.hu
Intézet/Tanszék/Cégnév: 
Fizika Intézet, Atomfizika Tanszék
Beosztás: 
egyetemi adjunktus
Elvárások: 

Angol nyelvtudás, szilárdtestfizikai alapismeretekangol nyelvtudás, szilárdtestfizikai alapismeretek.

Leírás: 

•      A téma a „Humán agydiagnosztika fejlesztése epilepszia kezelése céljából” c. NVKP16 projekthez kapcsolódik

•      A projekt során a kifejleszteni kívánt jelzőrendszereket biológiai környezetben (agysejtekben) kell felhasználni. Ehhez az alkalmazott nanokristályok felületét megfelelően módosítani kell. A SiC nanokristályok felülete az előállítási folyamat miatt poláros, és így vízben jól oldódik. Amennyiben a SiC nanokristályokat az agysejtek ioncsatornájához kívánjuk juttatni, akkor a felületet hidrofóbbá kell alakítani alkalmas felületi funkciós csoportok segítségével. A felületanalitikai mérésekkel ellenőrizzük az előállítás sikerességét, feltárjuk a technológia során a minta felületén kialakult esetleges szennyezőket, javaslatot teszünk a technológia fejlesztési lépéseire vonatkozóan.

•      A szakdolgozat keretén belül elvégzendő feladatok:

•      A fluoreszcens festékek szakirodalmának áttekintése

•      Az XPS módszer megismerése

•      Az XPS berendezés kezelésének és a méréskiértékelő szoftver használatának elsajátítása

•      A Wigner Intézetben a SiC alapú minták előállítási módszerének megismerése

•      XPS mérés végzése, a mérések kiértékelése és értelmezése - a projekt keretében a Wigner Intézetben előállított - SiC alapú mintákon