A különböző elektronikai építőelemek gyakorlati használhatósága szempontjából alapvető jelentőségű az adott eszközön tapasztalható intrinsic feszültségfluktuációk mértéke. Egy R ellenállással rendelkező eszköz az ellenállás értékével és a hőmérséklettel arányos, ún. termikus zajt mutat, mely független az adott eszköz anyagi minőségétől. Sok esetben a mérőeszközök belső termikus zaja korlátozza azok felbontóképességét. Egy másik zajtípus, az ún. 1/f zaj viszont jelentősen függ az adott eszköz anyagi minőségétől. Ezen zajtípus az eszközön belül kialakuló kétállapotú fluktuációkból, töltéscsapdák véletlenszerű betöltéséből/kiürüléséből, vagy hasonló belső dinamikai jelenségekből ered. Az 1/f zaj mértéke alapvetően befolyásolja az adott eszköz gyakorlati használhatóságát, sok esetben egy új elektronikai eszköz bevezetését hosszadalmas, az 1/f zaj csökkentését megcélzó fejlesztések előzik meg. A jelölt a szakdolgozata keretében elektrokémai fémesedésen alapuló nanométeres skálájú memrisztorkontaktusok zajjelenségeit fogja vizsgálni, különös tekintettel az ionmozgásokból eredő 1/f zaj tanulmányozására.