A hallgató neve: | specializációja: |
A záróvizsgát szervező tanszék neve: Fizika Intézet, Atomfizika Tanszék |
A témavezető neve:
Homokiné dr. Krafcsik Olga - tanszéke: Fizika Intézet, Atomfizika Tanszék - beosztása: egyetemi adjunktus - email címe: krafcsik@eik.bme.hu |
A kidolgozandó feladat címe: Fluoreszcens festékek felületanalitikai minősítése |
A téma rövid leírása, a megoldandó legfontosabb feladatok felsorolása: • A téma a „Humán agydiagnosztika fejlesztése epilepszia kezelése céljából” c. NVKP16 projekthez kapcsolódik • A projekt során a kifejleszteni kívánt jelzőrendszereket biológiai környezetben (agysejtekben) kell felhasználni. Ehhez az alkalmazott nanokristályok felületét megfelelően módosítani kell. A SiC nanokristályok felülete az előállítási folyamat miatt poláros, és így vízben jól oldódik. Amennyiben a SiC nanokristályokat az agysejtek ioncsatornájához kívánjuk juttatni, akkor a felületet hidrofóbbá kell alakítani alkalmas felületi funkciós csoportok segítségével. A felületanalitikai mérésekkel ellenőrizzük az előállítás sikerességét, feltárjuk a technológia során a minta felületén kialakult esetleges szennyezőket, javaslatot teszünk a technológia fejlesztési lépéseire vonatkozóan. • A szakdolgozat keretén belül elvégzendő feladatok: • A fluoreszcens festékek szakirodalmának áttekintése • Az XPS módszer megismerése • Az XPS berendezés kezelésének és a méréskiértékelő szoftver használatának elsajátítása • A Wigner Intézetben a SiC alapú minták előállítási módszerének megismerése • XPS mérés végzése, a mérések kiértékelése és értelmezése - a projekt keretében a Wigner Intézetben előállított - SiC alapú mintákon |
A záróvizsga kijelölt tételei: |
Dátum: |
Hallgató aláírása: |
Témavezető aláírása*: |
Tanszéki konzulens aláírása: |
A témakiírását jóváhagyom (tanszékvezető aláírása): |
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Természettudományi Kar |
1111 Budapest, Műegyetem rakpart 3. K épület I. em. 18. www.ttk.bme.hu |