A szobahőmérséklethez közeli hőmérsékleten jelentős fizikai változást mutató vékonyrétegeknek számos ígéretes alkalmazása lehet az intelligens ablaküvegektől kezdve, a nanoelektronikai alapanyagon keresztül, egészen a mesterséges izomig. Jelen BSc munka tárgyát az a VO₂ képezi, amely 67 °C-on monoklinikus-rutil fázisátalakulást mutat. Ennek során az eredetileg félszigető tulajdonságot mutató anyag fémes vezetővé válik. Ráadásul ez az átalakulás lokális elektromos tér és Joule-hő együttes alkalmazásával egészen kis térfogatban, akár néhány ezer köbnanométeres térfogatban, rendkívül gyorsan (~10 ps) megvalósítható pl. litografált nanorések segítségével. A mikroszkópikus térfogatban lezajló átalakulásra számos elmélet született a nemzetközi szakirodalomban, ill. a hazai együttműködő csoportok (BME Fizika Tanszék és EK-MFA) munkáiból egyaránt. Azonban ezek kísérleti igazolása különleges méréstechnikát igényel.

A BSc téma keretében használt technika a pásztázó tűszondás módszerek rendkívül nagy laterális felbontását egészíti ki lokális hőmérsékletfüggő vezetőképesség méréssel (c-AFM: Conductive Atomic Force Microscopy). A mérendő vékonyrétegek vákuumporlasztással készülnek a kutatás helyszínéül szolgáló Nanoérzékelők csoportjában. A hallgató feladata lesz az AFM műszerhez készített fűthető mintatartó tesztelése, valamint az in-situ mérések elvégzése és kiértékelése. A kísérlet végső célja, hogy láthatóvá tegyük a fázisátalakulási hőmérséklet környékén az egyes krisztallitok átkapcsolási térképét növekvő, ill. csökkenő hőmérsékleti profilozás mellett. A mérés közben nagy gondot jelent a felületre kiváló szénhidrogének jelenléte, melyek gátolhatják a fémmel bevont AFM szonda és a réteg közötti elektromos vezetést és ezen keresztül a vezetőképességi térkép rögzítését.