A rétegellenállás pontos és érintésmentes mérése a félvezető eszközök gyártástechnológiájában kiemelkedő fontosságú módszer, tiszta félvezető és vegyület-félvezető anyagok (elsősorban szilícium-karbid) esetén is jól használható. A rétegellenállás pontos ismerete és monitorozása elengedhetetlen például a teljesítményelektronikai chipgyártók számára a szilícium-karbid epitaxiális rétegnövesztés és n-típusú szennyezés optimalizálásához.

A Semilab Zrt. laboratóriumában a hallgató megismerkedhet a vegyület-félvezetők anyagi tulajdonságaival, azok méréstechnikai vizsgálatával. Feladata a műszeres analitikai mérések elvégzése, az eredmények kiértékelése és a jelenség fizikai hátterének megértése. MSc szinten a hallgató bekapcsolódik a méréstechnika kísérleti-elméleti fejlesztésébe is.