Nanokristályos gyémántminták felületének vizsgálata XPS módszerrel

Nyomtatóbarát változatNyomtatóbarát változat
Cím angolul: 
Examination of the surface of nanocrystalline diamond samples using the XPS method
Típus: 
Fizikus MSc diplomamunka téma - nanotechnológia és anyagtudomány
Félév: 
2024/25/2.
Témavezető: 
Név: 
Homokiné Dr. Krafcsik Olga
Email cím: 
krafcsik.olga@ttk.bme.hu
Intézet/Tanszék/Cégnév: 
Fizika Intézet, Atomfizika Tanszék
Beosztás: 
docens
Elvárások: 

angol nyelvtudás, szilárdtestfizikai alapismeretek

 

Leírás: 

A Wigner Fizikai Kutatóintézetben kémiai módszerrel történik a nanokristályos gyémánt minták funkcionalizálása. A jelölt feladata a Wigner FK-ban készített gyémántminták XPS vizsgálata, a reakciókörülmények és a felületi kémai kötésállapotok kapcsolatának feltárása

A szakdolgozat keretén belül elvégzendő feladatok:

  • A vonatkozó szakirodalom áttekintése
  • Az XPS módszer megismerése
  • Az XPS berendezés kezelésének és a méréskiértékelő szoftver használatának elsajátítása
  • A Wigner Intézetben a minták előállítási módszerének megismerése
  • XPS mérés végzése, a mérések kiértékelése és értelmezése
Titkosítas: 
Hozzáférés nincs korlátozva