Az atomerő-mikroszkóp (továbbiakban: AFM) elsődlegesen a felületek topográfiájának nanométeres tartományban történő feltérképezésére használt műszer.  Lehetőség nyílik azonban, a felület lekövetésén túl egyéb fizikai mennyiségek mérésre is (pl. elektrosztatikus erő, mágneses erő, Young-modulus vagy további mechanikai tulajdonságok).

A Medicontur Orvostechnikai Kft. által vezetett, 2014-ben indult (VKSZ_12-1-2013-0080 pályázati azonosítójú) „A szürkehályog hatékony gyógyítását elősegítő orvostechnika kutatás-fejlesztések” projektben beszereztünk egy világszínvonalú atomerő mikroszkópot (Bruker Dimension Icon), majd egy olyan kiegészítő modult (PeakForce Tapping – QNM), amellyel lehetőségünk van a nanomechanikai tulajdonságok kísérleti vizsgálatára.

A munka célja a kiegészítő modul mérési módszereinek elsajátítása, gyakorlati tesztelése, és beültethető szemlencse anyagok mechanikai tulajdonságának meghatározása levegő, és folyadék közegben.