Nanomechanikai tulajdonságok meghatározása atomerő mikroszkópiával

Nyomtatóbarát változatNyomtatóbarát változat
Típus: 
BSc szakdolgozat téma - alkalmazott fizika
Félév: 
2017/18/2.
Témavezető: 
Név: 
dr. Lenk Sándor
Email cím: 
lenk@eik.bme.hu
Intézet/Tanszék/Cégnév: 
Fizika Intézet, Atomfizika Tanszék
Beosztás: 
tudományos munkatárs
Elvárások: 

Kísérleti érdeklődés, angol nyelvtudás.

Leírás: 

Az atomerő-mikroszkóp (továbbiakban: AFM) elsődlegesen a felületek topográfiájának nanométeres tartományban történő feltérképezésére használt műszer.  Lehetőség nyílik azonban, a felület lekövetésén túl egyéb fizikai mennyiségek mérésre is (pl. elektrosztatikus erő, mágneses erő, Young-modulus vagy további mechanikai tulajdonságok).

A Medicontur Orvostechnikai Kft. által vezetett, 2014-ben indult (VKSZ_12-1-2013-0080 pályázati azonosítójú) „A szürkehályog hatékony gyógyítását elősegítő orvostechnika kutatás-fejlesztések” projektben beszereztünk egy világszínvonalú atomerő mikroszkópot (Bruker Dimension Icon), majd egy olyan kiegészítő modult (PeakForce Tapping – QNM), amellyel lehetőségünk van a nanomechanikai tulajdonságok kísérleti vizsgálatára.

A munka célja a kiegészítő modul mérési módszereinek elsajátítása, gyakorlati tesztelése, és beültethető szemlencse anyagok mechanikai tulajdonságának meghatározása levegő, és folyadék közegben.