Félvezető minták vizsgálata fluoreszcencia élettartam mérésekkel

Nyomtatóbarát változatNyomtatóbarát változat
Cím angolul: 
Examination of semiconductor samples using fluorescence lifetime measurements
Típus: 
BSc szakdolgozat téma - alkalmazott fizika
BSc szakdolgozat téma - fizikus
Félév: 
2022/23/2.
Témavezető: 
Név: 
Dr. Lenk Sándor
Email cím: 
lenk.sandor@ttk.bme.hu
Intézet/Tanszék/Cégnév: 
Atomfizika Tanszék
Beosztás: 
egyetemi docens
Elvárások: 

Olvasó és kísérletező kedv. Angol nyelvtudás.

Leírás: 

A BME Atomfizika Tanszéke mérési elrendezést hozott létre rövid élettartamú fotolumineszcencia fénykibocsátások vizsgálatára. A mintákat körülbelül 100 pikoszekundum impulzushosszú lézerforrással gerjesztjük és időkorrelált méréstechnikával mérjük az emittált fény fluoreszcencia lecsengési idejét. Az elmúlt hónapokban a növényi minták vizsgálatával párhuzamosan, ipari partnerrel együttműködve, félvezető minták vizsgálatát kezdtük meg.

A hallgató feladata, hogy a félvezetők fotolumineszcencia fénykibocsátásának, valamint az időbontásos méréstechnikának az elméleti alapjait megismerje. A megépített mérési elrendezéssel félvezető mintákon kísérleteket végezzen, a kísérleti elrendezés alkalmazás orientált továbbfejlesztésében részt vegyen. A mérési eredményeit értelmezze.

Titkosítas: 
Hozzáférés nincs korlátozva