Nyomtatóbarát változatCím angolul:
Light-induced, non-destructive characterization of multilayer semiconductors
Típus:
BSc szakdolgozat téma - alkalmazott fizika
BSc szakdolgozat téma - fizikus
MSc diplomamunka téma - nanotechnológia és anyagtudomány
MSc diplomamunka téma - optika és fotonika
MSc diplomamunka téma - kutatófizikus
Félév:
2023/24/2.
Témavezető:
Név:
Svarcz Miklós Zsolt
Email cím:
miklos.svarcz@semilab.hu
Intézet/Tanszék/Cégnév:
Semilab Zrt.
Beosztás:
projektvezető
Konzulens:
Név:
Fehér Titusz
Email cím:
feher.titusz@ttk.bme.hu
Intézet/Tanszék:
Fizika Tanszék
Beosztás:
egyetemi docens
Hallgató:
Név:
Varga Richárd
Képzés:
Fizikus MSc - optika és fotonika
Elvárások:
Szorgalmas munkavégzés, kreativitás, jó alkalmazkodókészség az ipari környezethez.
Diligence, creativity, good adaptability to the industrial environment.
Leírás:
A vegyületfélvezető anyagok és többrétegű struktúrák elektromos paramétereinek mérése elengedhetetlen része a jelenkori telekommunikációs és teljesítményelektronikai félvezető-gyártási folyamatnak. A Semilab Zrt. a félvezetőgyártók számára tervez és gyárt mérőberendezéseket világszerte.
A jelentkező a Semilab Zrt. RMCT fejlesztő csoportjával (Resistivity, Mobility, Conductivity Team) együttműködésben mérési készülékeket és eljárásokat dolgoz ki a kisebbségi és többségi töltéshordozók fizikai tulajdonságainak meghatározására. A jelentkező feladata a jelenségek fizikai hátterének kísérleti vizsgálata, a keletkezett adatok értelmezése, és a mérőkészülék kidolgozása, ill. fejlesztése.
Measuring the electrical parameters of compound semiconductor materials and multilayer structures is an essential part of the current semiconductor manufacturing process in telecommunications and power electronics. Semilab Co. designs and manufactures measurement equipment for semiconductor manufacturers worldwide.
The candidate will work with the RMCT development team (Resistivity, Mobility, Conductivity Team) of Semilab to develop measurement devices and procedures to determine the physical properties of minority and majority charge carriers. The candidate will be responsible for the experimental investigation of the physical background of the phenomena, the interpretation of the obtained data, and the design and development of the measuring equipment.
Titkosítas:
Hozzáférés korlátozott (titkosított)
Titkosítás oka:
Folyamatban lévő szabadalmaztatási eljárás, a korlátozás kért időtartama: 3 év.